缺陷形状对超声波入射的影响-超声波探测-声峰超声波

缺陷形状对超声波入射的影响

来源：时间：2022-10-09

由于当超声波入射到弯曲的反射界面时，其反射振幅将受界面曲率的影响而发生变化，因此，不同的缺陷形状对缺陷回波波高有很大影响。超声波入射到凹曲面和凸曲面时声束会聚和发散的规律与工件表面(反射界面)形状图2-10的影响相似，此处不再赘述。

为了便于研究，通常把缺陷形状简化为圆片形、球形和圆柱形三种。在远场区，各种缺陷的波高都与声源面积成正比。除此以外，缺陷形状对波高的影响规律是：圆片形缺陷波波高与缺陷面积成正比，与波长的平方及距离的平方成反比;长圆柱形缺陷波波高与缺陷直径的1/2次方成正比，与波长的1次方及距离的3/2次方成反比。

当点状缺陷直径远小于波长时，其回波高度正比于缺陷平均直径的3次方。波高随缺陷大小的变化十分急剧。因此，当缺陷变小时，由于回波波高急剧下反降，很容易下降到探伤仪不能反应的程度。

对于不同类型的缺陷，在缺陷距离(或缺陷直径)一定时，缺陷波波高随缺陷直径(或缺陷距离)的变化程度不同，因此可以用于在实际应用中对缺陷形状进行初步判定。

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